应用范围：元素分析范围从硫(S)到铀(U)；
可以测试ROHS指令规定的有害元素（限Cd/Pb/Cr/Hg/Br）其检测限度*高达1PPM；
金属元素成份分析，钢铁类的Fe,Al,Ni,Cr,Mn,Ti,Mo,Cu,Zn,Co,V,Pb,Bi,As等元素分析，铜合金类的Cu,Sn,Ni,Fe,Zn,Pb,Cr,Cd,Mn,Sb,Bi,As等元素分析
1.6.2. 元素含量分析范围为1 PPm到99.99%；
1.6.3. 测量时间：100-300秒；
1.6.4同时可以分析几十种以上元素，五层镀层
1.6.5分析检出限可达2ppm,镀层分析可以分析0.005um厚度样品
1.6.6 电源：交流220V±5V；（建议配置交流净化稳压电源。）
1.6.7镀层厚度一般在30μm以内（每种材料有所不同，另外选配模块）
1.6.8任意多个可选择的分析和识别模型。
1.6.9相互独立的基体效应校正模型。
1.6.10多变量非线性回收程序
1.6.11镀层测厚多次测量重复性可达0.1%
1.6.12镀层测厚长期工作稳定性可达0.1%
1.6.13. 能量分辨率为144±5电子伏特；
1.6.14. 温度适应范围为15℃至30℃；
1.7.产品特点
1.7.1 XRF-810是专门针对ROHS、EN71等环保指令及金属元素含量分析设计得一款产品。
1.7.2打破传统仪器直线的设计，采用流线体的整体化设计，仪器时尚大方。
1.7.3采用美国Amptek探测器Si-pin，电致冷而非液氮制冷，体积小、数据分析准确且维护成本低。
1.7.4采用自主研发的SES信号处理系统，有效提高测量的灵敏度，让测量更**。
1.7.5一键式自动测试，使用更简单，更方便，更人性化。
1.7.6七种光路校正准直系统，根据不同样品自动切换。
1.7.7多重防辐射泄露设计，辐射防护级别属于同类产品中**别。
1.7.8先进的一体化散热设计，使整机散热性能得到极大提高，保证了核心部件的运行**。
1.7.9独有的机芯温控技术，保证X射线源的**可靠运行，有效延长其使用寿命，降低使用成本。
1.7.10多重仪器配件保护系统，并可通过软件进行全程监控, 让仪器工作更稳定、更**。
1.7.11 ROHS专用测试软件，标准视窗设计，界面友好，操作方便。
1.7.12本机采用USB2.0接口，有效地保证了数据准确高速有效的传输。
产品配置清单
详细配置信息：
一、硬件：主机壹台，含下列主要部件：
(1) 大功率X光管 (2) 电制冷半导体探测器
(3) 放大电路 (4) 样品台
(5) 高清晰摄像头 (6) 自动切换准直器
(7) 自动切换滤光片 (8) 信噪比增强器
(9) 高压系统 (10) 超大样品腔
（11）联想电脑 （12）惠普打印机
二、软件及其他：
X荧光光谱仪Rohs及全元素分析软件
2.1仪器使用说明书（包括软件操作说明书和硬件使用说明书）、出厂检验合格证明、装箱单、保修单及其它应提供资料各一份。
2.2标准附件
(1) 准直孔：包括Ф口径分别为8-1＃, 8-2＃, 8-3＃, 8-4＃，6＃, 4＃, 2＃。（已内置于仪器中）；
(2) 滤光片：5种组合（已内置于仪器中）；
(3) 标准样品（欧盟标样）：PE标样、银校正片一片。
